The effect of white-noise mask level on sinewave contrast detection thresholds and the critical-band-masking model

• Autores: Ignacio Serrano Pedraza, Vicente Sierra Vázquez
• Localización: The Spanish Journal of Psychology, ISSN 1138-7416, Vol. 9, Nº. 2, 2006, págs. 249-262
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1017/s1138741600006156
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