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Madrid, España
La Entrevista de Apego para Niños (EAN) es un nuevo instrumento de evaluación del apego basado en un procedimiento de completar historias. El objetivo principal de este estudio se basa en el análisis de la estructura y las propiedades psicométricas del EAN a través de análisis factoriales exploratorios sobre una muestra constituida por 115 niños y niñas españoles de entre 8 y 13 años (63 % niños). Otras dos muestras procedentes de una población en situación de riesgo psicosocial y de una población clínica fueron comparadas con la muestra principal con el fin de obtener evidencias de validez criterial. Los resultados obtenidos revelan una estructura interna compuesta de 4 factores que se refieren a reacciones del niño (positiva, confiada, negativa y desconfiada) y cinco factores referidos a interacciones niño-figura de apego (empática, confiada, positiva, negativa y desconfiada). Las escalas han demostrada una adecuada consistencia interna. La comparación de las escalas entre el grupo general y los grupos criteriales, y las correlaciones con los constructos relacionados indicaron una buena validez de constructo.
The Children Attachment Interview (EAN) is a new instrument based on story telling reports. The main purpose of this study is to analyze the structure and basic psychometric properties of the EAN through exploratory factor analyses based on a sample of 115 Spanish children aged 8 to 13 years (63 % boys). Another two matched samples from the risk social population and clinical population were compared with the main sample in order to obtain criterial validity. Findings reveal a multi-internal structure composed of four factors that refer to children´s reactions (positive, trustful, negative and mistrustful) and five factors that refer to child-attachment figure interactions (empathic, trustful, positive, rivalry and pro-arousal). Scales demonstrated adequate internal consistency. The comparison of scales between general and criterial groups, and correlations with related constructs indicate good construct validity.
