How to fit models of recognition memory data using maximum likelihood

• Autores: John C. Dunn
• Localización: International Journal of Psychological Research, ISSN 2011-2084, ISSN-e 2011-2084, Vol. 3, Nº. 1, 2010, págs. 140-149
• Idioma: inglés
• DOI: 10.21500/20112084.859
• Títulos paralelos:
  • Cómo ajustar modelos de datos en experimentos sobre la memoria de reconcomiendo usando métodos de máxima verosimilitud
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