Dígitos WAIS III: análisis de su fiabilidad test-retest en adultos argentinos

• Martino, Pablo Luis ^[1] ; Cervigni, Mauricio ^[3] ; Sponton, Judith ^[2] ; Murray, Jessie ^[2] ; Gallegos , Miguel ^[4]
  1. [1] Universidad Abierta Interamericana

     Universidad Abierta Interamericana

     Argentina

     
  2. [2] Universidad Nacional de Rosario

     Universidad Nacional de Rosario

     Argentina

     
  3. [3] Universidad Nacional de Rosario, Facultad de Psicología, Centro de Investigación en Neurociencias de Rosario (CINR), Rosario, Argentina; Universidad Adventista del Plata, Centro Interdisciplinario de Investigaciones en Ciencias de la Salud y del Comportamiento, Libertador San Martín, Entre Ríos, Argentina.
  4. [4] Escuela de Posgrado. Universidad Continental, Lima, Perú

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• Localización: Revista Argentina de Ciencias del Comportamiento ( RACC ), ISSN-e 1852-4206, Vol. 17, Nº. 3, 2025 (Ejemplar dedicado a: Revista Argentina de Ciencias del Comportamiento), págs. 139-145
• Idioma: español
• DOI: 10.32348/1852.4206.v17.n3.40827
• Títulos paralelos:
  • Digit span WAIS III: test-retest reliability analysis in argentine adults
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• Resumen
  • español

    Dígitos de la WAIS III es una prueba de uso frecuente en evaluación neuropsicológica para explorar amplitud atencional y memoria de trabajo. Si bien la literatura científica le asigna fiabilidad test-retest de buena a excelente, dichos estudios se han centrado en el coeficiente r, y no en el coeficiente de correlación intraclase o CCI. El objetivo fue analizar la fiabilidad test-retest para Dígitos WAIS III mediante el CCI. Se administró dicha prueba a 85 argentinos (M 64.1 años, rango de edad: 43-85 años) en dos momentos distintos, con intervalo promedio de 75.5 días. Dígitos Atrás y Dígitos total obtuvieron buena fiabilidad con CCI= .61. Dígitos Adelante presentó fiabilidad regular con CCI= .57. Estos resultados sugieren que la estabilidad temporal de la prueba es aceptable, aunque con coeficientes al límite. Serán convenientes nuevos estudios con CCI e intervalos test-retest más breves, a los fines de ratificar o rectificar estos hallazgos.

  • English

    Digit span WAIS III is a test frequently used in neuropsychological assessment to explore attentional span and working memory. Although the scientific literature assigns it good to excellent test-retest reliability, these studies have focused on the r coefficient, and not on the intraclass correlation coefficient or ICC. In fact, the objective was to analyze the test-retest reliability for Digit span WAIS III using the ICC. Digit span WAIS III was administered to 85 argentines (average=64.1 years) at two different times with an average test-retest interval of 75.5 days. Digits back and Digits total obtained good reliability with ICC .61. Digits forward presented fair reliability with ICC .57. These results suggest that the temporal stability of the test is acceptable, but with values at the limit. Further reliability studies with ICC and shorter test-retest intervals would be desirable to ratify or rectify these new findings.

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